Formtracer(表面粗糙度/轮廓测量装置)SV-C3100/SV-C4100
Formtracer(表面粗糙度/轮廓测量装置)SV-C3100/SV-C4100
525系列—表面粗糙度/轮廓测量仪
特点
大幅提高的驱动速度(X轴:
为了更长时间地保持直线度,三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨;
驱动器(X轴)和立柱(Z2轴)均配备了高精度线形编码器(其中Z2轴上为ABS型)。因此,在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高。
表面粗糙度测量
直线度:±(0.05+
*S4型、H4型、W4型;L为驱动长度(mm)
符合JIS'82/'94/'01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的国际标准。
标准配置:高精度测头(0.75mN/4mN测力),分辨率高至0.0001μm。
自动测量
在与CNC机型配套使用的众多外设选件的支持下,可实现自动测量。
轮廓驱动测量
X轴精度:±(0.8+
*SV-C4100S4型、H4型、W4型;L为驱动长度,H为测量高度(mm)
SV-C4100系列的轮廓驱动器配备了激光全息测微计测头,Z1轴宽/窄范围均能达到极高的精度和分辨率。
基本技术参数:
基座尺寸(WxH):750x
基座材料:花岗岩
重量
主机:
控制器:
遥控箱:
电源:100–240VAC±10%,50/60Hz
能耗:400W(主机)
轮廓测量技术参数:
X轴
测量范围:
分辨率:0.05μm
检测方法:反射型线性编码器
驱动速度:
测量速度:0.02
移动方向:向前/向后
直线度:0.8μm/
*以X轴为水平方向上
直线位移:±(1+
精度(
±(1+
±(0.8+
*L为驱动长度(mm)
倾角范围:±45°
Z2轴(立柱)
垂直移动:
分辨率:1μm
检测方法:ABSOLUTE线性编码器
驱动速度:0
Z1轴(检测器)
测量范围:±
分辨率:0.2μm(SV-C3100),
0.05μm(SV-C4100)
检测方法:线性编码器(SV-C3100),
激光全息测微计(SV-C4100)
直线位移:±(2+I4HI/100)μm(SV-C3100)
精度(
*H:基于水平位置的测量高度(mm)
测针上/下运作:弧形移动
测针方向:向上/向下
测力:30mN
跟踪角度:向上:77°,向下:87°
(使用配置的标准测头,依表面粗
糙度而定)
测针针尖尖端半径:25μm、硬质合金尖端
表面粗糙度测量的技术参数:
X1轴
测量范围:
分辨率:0.05μm
检测方法:线性编码器
驱动速度:
移动方向:向后
直线度:(0.05+
0.5μm/
Z2轴(立柱)
垂直移动:
分辨率:1μm
检测方法:ABSOLUTE线性编码器
驱动速度:0
检测器
范围/分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,
8μm/0.0001μm
(2400μm使用测头选件)
检测方法:无轨/有轨测量
测力:4mN或0.75mN(低测力型)
测针针尖:金刚石、90º/5μmR
(60º/2μmR:低测力型)
导头曲率半径:
检测方法:差动电感式
软件选件
DUALTRACEPAK
测量装置可自动运行,安装了表面粗糙度驱动装置后,表面粗糙度分析程序SURFPAK-SV自动启动。同样,安装了轮廓驱动装置后,形状分析程序FORMPAK-1000也自动启动。即使Formtracer已关闭,离线分析所需程序仍可从屏幕菜单中选出并运行。
ForMTRACEPAK
使用该软件可以控制马达驱动的Y轴工作台和旋转台选件,从而实现自动测量。使用该软件还可以进行轮廓评估,这项评估包括对级差,角度,深度,面积和其他基于表面粗糙度数据的特性进行分析。另外,还可以通过设置打印格式建立原始检测证书,以适应不同的需求。
性能参数:
型号 |
SV-C3100S4 |
SV-C3100S4 |
SV-C3100H4 |
SV-C3100H4 |
SV-C3100W4 |
SV-C3100W4 |
货号(mm) |
525-421-1* |
525-421-2* |
525-422-1* |
525-422-2* |
525-423-1* |
525-423-2* |
货号(inch) |
525-431-1* |
525-431-2* |
525-432-1* |
525-432-2* |
525-433-1* |
525-433-2* |
型号 |
SV-C4100S4 |
SV-C4100S4 |
SV-C4100H4 |
SV-C4100H4 |
SV-C4100W4 |
SV-C4100W4 |
货号(mm) |
525-461-1* |
525-461-2* |
525-462-1* |
525-462-2* |
525-463-1* |
525-463-2* |
货号(inch) |
525-471-1* |
525-471-2* |
525-472-1* |
525-472-2* |
525-473-1* |
525-473-2* |
X1轴测量范围 |
|
|
|
|
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|
检测器测力 |
0.75mN |
4mN |
0.75mN |
4mN |
0.75mN |
4mN |
垂直移动 |
|
|
| |||
花岗岩基座尺寸(WxD) |
610x |
610x |
1000x | |||
尺寸(主机、WxDxH) |
996x575x |
996x575x |
1396x575x | |||
重量(主机) |
|
|
|
型号 |
SV-C3100S8 |
SV-C3100S8 |
SV-C3100H8 |
SV-C3100H8 |
SV-C3100W8 |
SV-C3100W8 |
货号(mm) |
525-426-1* |
525-426-2* |
525-427-1* |
525-427-2* |
525-428-1* |
525-428-2* |
货号(inch) |
525-436-1* |
525-436-2* |
525-437-1* |
525-437-2* |
525-438-1* |
525-438-2* |
型号 |
SV-C3100S8 |
SV-C3100S8 |
SV-C3100H8 |
SV-C3100H8 |
SV-C3100W8 |
SV-C3100W8 |
货号(mm) |
525-466-1* |
525-466-2* |
525-467-1* |
525-467-2* |
525-468-1* |
525-468-2* |
货号(inch) |
525-476-1* |
525-476-2* |
525-477-1* |
525-477-2* |
525-478-1* |
525-478-2* |
X1轴测量范围 |
|
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|
检测器测力 |
0.75mN |
4mN |
0.75mN |
4mN |
0.75mN |
4mN |
垂直移动 |
|
|
| |||
花岗岩基座尺寸(WxD) |
610x |
610x |
1000x | |||
尺寸(主机、WxDxH) |
1005x575x |
1005x575x |
1408x575x | |||
重量(主机) |
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