Surftest(表面粗糙度测量仪)SV-3100
Surftest(表面粗糙度测量仪)SV-3100
178系列—表面粗糙度测量仪
表面粗糙度测量仪SV-3100系列产品可进行高精度、高水平分析和多功能粗糙度测量。
特点
三丰表面粗糙度测量仪SV-3100系列产品可进行高精度、高水平分析,多功能3D表面粗糙度分析,微细轮廓测量,以及原有的表面粗糙度测量。
自动调水平工作台、3轴调整台等外部设备的应用,有效增强了该产品的操作性能,同时也真正实现了自动测量。
安装了专业资料分析软件SURFPAK-SV使用这一软件,可对从车间和实验室中得到的资料进行统一格式的管理。
采用陶瓷制作的X轴驱动部导轨,因为陶瓷具有极好的防磨损性能。无需润滑油也能正常工作。
为了保证高精度测量,在X轴和Y轴(选件)上都内置了高清晰度的玻璃尺(X轴分辨率:0.05μm,Y轴分辨率:1μm)因为要保证SV-3100系列产品具有高度的可靠性,特别是对于水平粗糙度参数(S,Sm),X轴的分辨率就必须达到相当的水平。
配有高精度测针。
配有多种功能,如“直线度补偿功能”,可确保X轴的线性精度;“圆度补偿功能”,可保证测针的垂直移动;以及“针尖半径补偿功能”等。
测针和测针导头都可轻松替换。可选测针和滑轨可适应各种粗糙度测量的需要,如小孔测量、深孔测量等。
在各种型号中,还提供了易于操作的控制箱。控制箱与主机分离,可遥控执行定位、开始/停止测量、返回以及远程进行其他操作。驱动部的上/下位置和X轴的移动都可手动进行微调。
技术参数
X轴
测量范围:
分辨率:0.05μm
检测方法:线性编码器
驱动速度:0
测量速度:0.02
移动方向:向后
直线度:(0.05+
(0.5μm/
倾角范围:±45º
Z2轴(立柱)
垂直移动:
分辨率:1μm
检测方法:ABSOLUTE线性编码器
驱动速度:0
检测器
范围/分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,
8μm/0.0001μm(使用测头选件
时,最大可达2400μm)
检测方法:无轨/有轨测量
测力:4mN或0.75mN(低测力型)
测针针尖:金刚石、90º/5μmR
(60º/2μmR:低测力型)
导头曲率半径:
检测方法:差动电感式
基座尺寸(WxH):600x
基座材料:花岗岩
尺寸(WxDxH):756x482x
756x482x
1156x482x
766x482x
766x482x
1166x482x
重量
*L为驱动长度(mm)
评估能力:SURFPAK-SV
评估轮廓
P(主轮廓),R(表面粗糙度轮廓),WC,WCA,WE,WEA,
DIN4776轮廓、包络残余线、粗糙度motif、波形motif
评估参数
Ra,Rq,Rz,Ry,Rz(JIS),Ry(DIN),Rc,Rp,Rpmax,Rpi,Rv,Rvmax,Rvi,
Rt,Rti,R3z,R3zi,R3y,S,Pc(Ppi),Sm,HSC,mr,c,plateauratio,
mrd,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,a,q,a,q,Sk,Ku,Lo,Lr,A1,
A2
粗糙度motif参数:Rx,R,AR,SR,SAR,NR,NCRX,CPM
波形motif参数:Wte,Wx,W,AWSW,SAW,NW
分析图表
ADC,BAC1,BAC2、功率谱图、自相关图、Walsh功率
谱图、Walsh自相关图、倾斜分布图、局部峰值分布图、
参数分布图
滤波类型2CR-75%,2CR-50%,2CR-75%(相位校正),
2CR-50%(相位校正),高斯-50%
截止波长*
c:
fl:
fh:
取样长度(L)*
取样长度
倾斜补偿、R平面(曲面)补偿、椭圆补偿、抛物线补偿、
双曲线补偿、二次曲线自动补偿、多项式补偿、
多项式自动补偿
可在
选件
178-611:阶差样板(2μm,10μm)
178-612:阶差样板
(2μm,10μm,79μinch,394μinch)
178-610:公制型4段阶差样板
(1μm,2μm,5μm,10μm)
178-047:三轴调整台(包括998291)
178-016:调水平工作台
178-042-1:DigimaticXY调水平工作台(25x
178-052-1:DigimaticXY调水平工作台(1"x1")
178-043-1:XY调水平工作台(25x
178-053-1:XY调水平工作台(1"x1")
178-019:精密卡钳*
998291:精密V型块*
181-902:带夹钳的V型块
(最大工件直径:
181-901:带夹钳的V型块
(最大工件直径:1")
178-023:防震台
178-024:防震台架
218-007:仪器放置台
166-215:仪器放置台(带有抽屉)
218-010:辅助台
218-008:辅助台
性能参数:
型号 |
SV-3100S4 |
SV-3100S4 |
SV-3100H4 |
SV-3100H4 |
SV-3100W4 |
SV-3100W4 |
货号(mm) |
178-471-1* |
178-471-2* |
178-472-1* |
178-472-2* |
178-473-1* |
178-473-2* |
货号(inch) |
178-481-1* |
178-481-2* |
178-482-1* |
178-482-2* |
178-483-1* |
178-483-2* |
货号(mm) |
178-451-1* |
178-451-2* |
178-452-1* |
178-452-2* |
178-453-1* |
178-453-2* |
货号(inch) |
178-461-1* |
178-461-2* |
178-462-1* |
178-462-2* |
178-463-1* |
178-463-2* |
检测器测力 |
0.75mN |
4mN |
0.75mN |
4mN |
0.75mN |
4mN |
X轴测量范围 |
|
|
| |||
垂直移动 |
|
|
500mmmanual立柱 | |||
花岗岩基座尺寸(WxD) |
600x |
600x |
1000x | |||
尺寸(主机、WxDxH) |
756x782x |
756x482x |
1156x482x | |||
重量(主机) |
|
|
|
型号 |
SV-3100S8 |
SV-3100S8 |
SV-3100H8 |
SV-3100H8 |
SV-3100W8 |
SV-3100W8 |
货号(mm) |
178-476-1* |
178-476-2* |
178-477-1* |
178-477-2* |
178-478-1* |
178-478-2* |
货号(inch) |
178-486-1* |
178-486-2* |
178-487-1* |
178-487-2* |
178-488-1* |
178-488-2* |
货号(mm) |
178-456-1* |
178-456-2* |
178-457-1* |
178-457-2* |
178-458-1* |
178-458-2* |
货号(inch) |
178-466-1* |
178-466-2* |
178-467-1* |
178-467-2* |
178-468-1* |
178-468-2* |
检测器测力 |
0.75mN |
4mN |
0.75mN |
4mN |
0.75mN |
4mN |
X轴测量范围 |
|
|
| |||
垂直移动 |
|
|
500mmmanual立柱 | |||
花岗岩基座尺寸(WxD) |
600x |
600x |
1000x | |||
尺寸(主机、WxDxH) |
766x482x |
766x482x |
1166x482x | |||
重量(主机) |
|
|
|