Surftest(表面粗糙度测量仪)SV-2100

Surftest(表面粗糙度测量仪)SV-2100

178系列—带有专用控制/显示装置

带专用控制器的高精度，高性能，袖珍型表面粗糙度测量仪，操作简单，显示一目了然。

特点

显示一目了然，操作简单。

配备高可见度7.5英寸TFTLCD屏幕。彩色图标显示、触控式面板，显示更清晰，操作更简单。

轻松定位使用专用控制器内置的操纵杆，轻松、快速地定位。小孔内侧的测量，需要对微小测头进行微调。利用手动手柄，实现轻松微调。

轻松设置表面粗糙度的测量条件。利用配备的简单输入功能，可按照ISO/JIS粗糙度标准的绘图指令符号进行输入。以往非常麻烦的测量条件设置如今可轻松输入，从菜单上直接选取表面粗糙度的绘图指令符号即可。

技术参数:SV-2100

X轴(驱动部)

　测量范围:100mm

　分辨率:0.05μm

　检测方法:线性编码器

　驱动速度:0-40mm/s

　测量速度:0.02-5mm/s

　移动方向:向后

　直线度:0.15μm/100mm

Z2轴(立柱)

　类型:手动操作或电驱动

垂直移动:350mm或550mm*

　分辨率*:1μm

　检测方法*:旋转编码器

　驱动速度*:0-20mm/s

*仅适于电驱动型

检测器

　范围／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,

8μm/0.0001μm

　检测方法:无轨／有轨测量

　测力:4mN或0.75mN(低测力型)

　测针针尖:金刚石、90º/5μmR

(60º/2μmR:低测力型)

　导头曲率半径:40mm

　检测方法:差动电感式

控制器

　显示:7.5"带背光的TFT彩显

　打印机:内置热敏打印机

　放大倍率:水平:X10至X500,000、自动

垂直:X0.5至X10,000、自动

　驱动装置的控制:通过操纵杆手动手柄的操作

评估能力

评估轮廓

P(主轮廓),R(表面粗糙度轮廓),WC,WCA,WE,WEA,包络

残余线、粗糙度motif、波形motif

评估参数

Ra,Rc,Ry,Rz,Rq,Rt,Rmax,Rp,Rv,R3z,Sm,S,Pc,mr(c),c,mr,

tp,Htp,Lo,Ir,Ppi,HSC,a,q,Ku,Sk,Rpk,Rvk,Rk,Mr1,Mr2,

A1,A2,Vo,a,q

粗糙度motif参数:R,AR,Rx

波形motif参数:W,AW,Wx,Wte

分析图表

ADC,BAC,功率谱图

数显滤波器

　2CR-75%,PC-75%、高斯滤波器、鲁棒样条

截止波长

s:0.25μm,0.8μm,2.5μm,8μm,25μm,250μm、无滤波器

c*:0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm

f:0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm、无滤波器

采样长度(L)*

0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm,80mm

(仅适于SV-2100)

数据补偿功能

抛物线补偿、双曲线补偿、椭圆补偿、R平面(曲面)

补偿、锥面补偿、倾斜补偿

*在0.02mm至50mm的范围内可指定任意长度。

性能参数：